什么是光譜反射率測試設(shè)備？測量原理是什么？

　　光譜反射率測試設(shè)備集光譜、反射率、飽和度、L、A、B等測量功能于一體。可以測試透明或半透明平板狀物體的透射率以及顏色值，還可以測試透明或不透明平面平板狀物體的反射率以及顏色值，并可計(jì)算出色差。可以用于測量物體的反射率、反射率顏色和化學(xué)樣品中的成分信息，是為涂料、顏料、油墨、平面樣品、硅晶片、鍍膜表面、鏡面鋁鏡、油漆、塑料、布料等化工行業(yè)。

　　本公司提供的kSA SpectR光譜反射率測試設(shè)備是一種用于測量光譜絕對反射率，L*a*b*成色值和生長速率的非接觸式測量設(shè)備。該工具具有多種在線監(jiān)控和過程控制的應(yīng)用功能，包括垂直腔表面發(fā)射激光器(VCSEL)，分布式布拉格反射器(DBR)和其他一些復(fù)雜的設(shè)備結(jié)構(gòu)。該設(shè)備的光學(xué)鏡組被配置為鏡面反射的幾何形狀，使用的測量原理：薄膜每生長出一個(gè)新layer，程序就會自動擬合，將已有的所有基底和薄膜layer視為一個(gè)新的虛擬基底。可以同時(shí)以多個(gè)波長進(jìn)行測量，每個(gè)波長都具有潛在的*優(yōu)勢。此工具可在選定的波長范圍內(nèi)輕松測量自定義光譜特征，如反射率的*值、拐點(diǎn)或基線散射水平。